產(chǎn)品列表 / products
簡(jiǎn)要描述：ZB-HY3000紙張環(huán)壓儀是測(cè)定紙張環(huán)壓強(qiáng)度（RCT）、瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度（ECT）、瓦楞紙板平壓強(qiáng)度（FCT）、瓦楞紙板粘合強(qiáng)度（PAT）、瓦楞原紙平壓強(qiáng)度（CMT）的儀器。是目前國(guó)內(nèi)性價(jià)比非常高的一款高精度壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀器。
產(chǎn)品型號(hào)： ZB-HY3000
所屬分類：環(huán)壓儀
更新時(shí)間：2024-10-31
| 品牌 | 紙邦 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 包裝/造紙/印刷 |
ZB-HY3000紙張環(huán)壓儀
一、產(chǎn)品概述
ZB-HY3000紙張環(huán)壓儀是測(cè)定紙張環(huán)壓強(qiáng)度（RCT）、瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度（ECT）、瓦楞紙板平壓強(qiáng)度(FCT)、瓦楞紙板粘合強(qiáng)度(PAT)、瓦楞原紙平壓強(qiáng)度(CMT)的儀器。是目前國(guó)內(nèi)性價(jià)比非常高的一款高精度壓縮強(qiáng)度測(cè)試儀器。
該儀器為機(jī)電一體化結(jié)構(gòu)，采用現(xiàn)代機(jī)械設(shè)計(jì)理念和微機(jī)處理技術(shù)進(jìn)行精心合理的設(shè)計(jì)。儀器采用上壓板固定式，測(cè)量精度高。具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能，可直接得出各項(xiàng)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果，并且能自動(dòng)復(fù)位，操作方便，容易調(diào)節(jié)，性能穩(wěn)定。
儀器配備相應(yīng)輔具可進(jìn)行以下試驗(yàn)(可選）：
——配備環(huán)壓試驗(yàn)中心盤和環(huán)壓取樣器，進(jìn)行紙板環(huán)壓強(qiáng)度試驗(yàn)（RCT）
——配備邊壓（粘合）試樣取樣器和輔助導(dǎo)塊，進(jìn)行瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度試驗(yàn)（ECT）
——配備平壓試樣取樣器，進(jìn)行瓦楞紙板平壓強(qiáng)度試驗(yàn)（FCT）
——配備剝離強(qiáng)度試驗(yàn)架，進(jìn)行瓦楞紙板粘合（剝離）強(qiáng)度試驗(yàn)（PAT）
——配備槽紋儀和輔助器具，進(jìn)行瓦楞原紙平壓強(qiáng)度（CMT）
二、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ISO 12192《紙和紙板----壓縮強(qiáng)度-----環(huán)壓法》
ISO 3070《瓦楞紙板-----邊緣耐壓強(qiáng)度的測(cè)定》
ISO 7263《瓦楞芯紙----實(shí)驗(yàn)室起楞后平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
ISO 3035《單面和單瓦楞紙板 平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 2679.8《紙和紙板環(huán)壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 6546《瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 6548《瓦楞紙板粘合強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T 2679.6《瓦楞原紙平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
GB/T22874《單面和單瓦楞紙板 平壓強(qiáng)度的測(cè)定》
三、主要性能參數(shù)
儀器功能主機(jī)，用戶可根據(jù)實(shí)際情況單獨(dú)訂購(gòu)相應(yīng)的附件，實(shí)現(xiàn)原紙和瓦楞紙板多種強(qiáng)度試驗(yàn)；
具有測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理功能，可打印輸出。
機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊，外觀美觀大方，維修方便
大屏幕彩色觸摸屏，易于操作
四、主要技術(shù)參數(shù)
參數(shù)項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
電源 | AC220V±10% 50HZ |
測(cè)量范圍(N) | 50～3000 |
分辨力(N) | 1 |
示值準(zhǔn)確度 | 示值誤差±1%，示值變動(dòng)性≤1% |
試驗(yàn)速度(mm/min) | 12.5±2.5 |
上下壓板平行度(mm) | ＜0.05 |
上下壓板zui大距離(mm) | 78 |
儀器尺寸（長(zhǎng)*寬*高）mm | 450*400*500 |
凈重kg | 75 |
注：測(cè)試數(shù)據(jù)在100N以下（含100N）時(shí)，示值準(zhǔn)確度允許超出上表規(guī)定范圍
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